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簡介：HAD-WSP-51數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的...

簡介：HA/RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除...

簡介：TH2661型四探針測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)...

簡介：測量范圍電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω

簡介：數(shù)字式四探針測試儀，是二量程的電阻測量儀器，配以手持式測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導體材料。(客戶根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程，...

簡介：主機采用的*電路設(shè)計，所測數(shù)值更精、更快、更準（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。

簡介：HHY8-SZT-2000型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量，可以從10-6--105Ω...