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簡介：配置四探針測試儀主機、ZLKJ-2B型測試臺、9D型探頭、ZLK710F型數(shù)據(jù)處理器21000/套配置四探針測試儀主機、ZLKJ-52型測試臺、DNT-1型探頭、ZLK710F型數(shù)據(jù)處理器2230...

簡介：配置四探針測試儀主機、ZLKS-2B型探針臺、ZLKFT-201四探針探頭、測試軟件(含測控模塊)19000/套配置四探針測試儀主機、ZLKS-2B型探針臺、ZLKFT-201四探針探頭、臺式電腦...

簡介：配置四探針測試儀主機、ZLKS-2A型探針臺、ZLKFT-201四探針探頭、測試軟件(含測控模塊)23000/套配置四探針測試儀主機、ZLKS-2A型探針臺、ZLKFT-201四探針探頭、臺式電腦...

簡介：四探針測試儀（手持式）型KRTS-3型

簡介：便攜式四探針測試儀按測量范圍可選配RTS-2型或RTS-2A型，區(qū)別：測量范圍不一樣。

簡介：ZLKSDY4四探針測試儀本儀器可滿足半導體材料、器件的研究生產(chǎn)單位對材料(棒材、片材)電阻率及擴散層、離子注入層、異型外延層和導電薄膜方塊電阻測量的需要。

簡介：配置四探針測試儀主機、ＺＬＫS-2B型探針臺、ＺＬＫFT-201四探針探頭13000/套配置四探針測試儀主機、ＺＬＫS-2B型探針臺、ＺＬＫFT-201四探針探頭、測試軟件(含測控模塊)17000...

簡介：ZLKRTS-8型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準而設計的，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)...

簡介：儀器由主機、測試臺、四探針探頭、真空泵、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果。

簡介：多功能數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定...