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簡介：·Quattro掃描電鏡具有環(huán)境真空功能的極靈活、多功能高分辨率掃描電鏡

簡介：?Apreo革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產(chǎn)生的高分辨率和信號選擇

簡介：探知未來原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱

簡介：HR-SPM:高分辨原子力顯微鏡使用調(diào)頻模式空氣和液體中的噪音降低到傳統(tǒng)模式的二十分之一在空氣和液體環(huán)境中也能達到超高真空原子力顯微鏡的分辨率現(xiàn)有的掃描探針顯微鏡(scanningprobemic...

簡介：MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統(tǒng)：新型電子光學系統(tǒng)，可達到高水準的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質(zhì)TEM樣品制備成為可能可用于截面加工...

簡介：追求的TEM樣品制備工具在設備及高性能納米材料的評價和分析領域，F(xiàn)IB-SEM已成為的工具。近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。日立高新公司，整合了高性能FIB技...

簡介：追求理想的三維結構分析通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構特定微區(qū)的三維結構。采用的鏡筒布局，從材料、設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內(nèi)實現(xiàn)傳統(tǒng)機型難以...

簡介：1.搭載兩種透鏡模式的高性能SEM鏡筒HR模式下可實現(xiàn)高分辨觀察（半內(nèi)透鏡）FF模式下可實現(xiàn)高精度加工終點檢測（TimesharingMode）2.高通量加工可通過高電流密度FIB實現(xiàn)快速加工（束...

簡介：高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像HAADF-STEM圖像0.136nm，F(xiàn)FT圖像0.105nm(高分辨率鏡頭*)HAADF-STEM圖像0.144nm(標準鏡頭)明場掃描透射電子顯微鏡圖像0.20...

簡介：以創(chuàng)新的操作性，滿足廣泛領域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。"RuliTEM"120kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實現(xiàn)大視野、高對比度觀察的HT7800和配備同級別分辨率...