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探針臺測試設(shè)備

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公司名稱 深圳市納科電子有限公司
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型號
所在地 深圳市
廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2024/12/9 16:02:04
訪問次數(shù) 21

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

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AnalyticalProbingStationPW-600基本特點(diǎn)：在顯微鏡底下，利用探針搭接于IC內(nèi)部線路，使其可以外接各類設(shè)備，以便量測或輸入訊號：探針分為硬針和軟針

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Analytical Probing Station PW-600基本特點(diǎn)：

在顯微鏡底下，利用探針搭接于IC內(nèi)部線路，使其可以外接各類設(shè)備，以便量測或輸入訊號：
探針分為硬針和軟針。硬針以針尖1um及5um粗細(xì)為主要應(yīng)用規(guī)格：軟針針尖<1um，主要應(yīng)用在高頻電路及FIB probing PAD；當(dāng)EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等在無適當(dāng)治具或socket可用時，可由點(diǎn)針方式提供訊號輸入輸出；Wafer可搭配Probe card做各項(xiàng)測試；