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- 公司名稱 思耐達(dá)精密儀器(上海)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/5/28 15:48:49
- 訪問次數(shù) 51
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產(chǎn)品介紹 微型采樣方法(已在日本和美國取得)已在半導(dǎo)體器件分析領(lǐng)域成為一款工具,它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品,以便于STEM分析,其定位精度可達(dá)到0.1 µm以下。
產(chǎn)品介紹:
優(yōu)異的高效分析性能
微型采樣方法(已在日本和美國取得)已在半導(dǎo)體器件分析領(lǐng)域成為一款工具,它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時左右即可獲得一個微小樣品,以便于STEM分析,其定位精度可達(dá)到0.1 μm以下。
產(chǎn)品特點:
聚焦離子束(FIB)微采樣裝置和聚焦離子束(FIB)微采樣方法
聚焦離子束(FIB)微柱狀制樣實例
一個微柱狀樣品,包含一個直接從半導(dǎo)體器件上準(zhǔn)確地切割下來的分析點。改變?nèi)肷渚劢闺x子束(FIB)的方向,把微樣品切割或加工成任意形狀。
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