光學薄膜吸收測量儀(Model PTS-2000)，適用于各類光學薄膜和光學元器件表面吸收率的檢測和分析。根據(jù)客戶具體需求，可進行紫外、可見或者近紅外波段的精密測量。

光學材料體內(nèi)吸收測量儀(Model PTB-2000)，適用于各類光學元器件及材料體內(nèi)吸收率的檢測和分析。根據(jù)客戶具體需求，可進行紫外、可見或者近紅外波段的精密測量。

1、高靈敏度；

2、高重復(fù)精度；

3、一鍵式操作；

4、樣品更換便捷、無需重復(fù)校準；

5、可進行吸收率的橫向均勻性分析；

6、可進行激光輻照或環(huán)境變化條件下的吸收率穩(wěn)定性分析；

7、泵浦光源：可以標配，也可根據(jù)用戶需求選配或者由客戶自配。

注：可以根據(jù)客戶需求提供同類特制儀器和相關(guān)測試的解決方案。