ARTAX便攜式微區(qū) X 射線熒光光譜儀
專為對貴重物品和靜止物體進(jìn)行現(xiàn)場分析而設(shè)計
ARTAX 是*個商業(yè)化的便攜式微區(qū) X 射線熒光光譜儀，設(shè)計用于滿足對*的和貴重的物品如考古和藝術(shù)品進(jìn)行現(xiàn)場成分分析的需求。
系統(tǒng)可以對 Na (11)-U (92)之間的所有元素進(jìn)行多元素同時分析，空間分辨率可以達(dá)到 70 微米。
測量采用非破壞、非接觸式方法，調(diào)查過程中不會損害任何物品。30 分鐘之

ARTAX便攜式微區(qū) X 射線熒光光譜儀
專為對貴重物品和靜止物體進(jìn)行現(xiàn)場分析而設(shè)計
ARTAX 是*個商業(yè)化的便攜式微區(qū) X 射線熒光光譜儀，設(shè)計用于滿足對*的和貴重的物品如考古和藝術(shù)品進(jìn)行現(xiàn)場成分分析的需求。
系統(tǒng)可以對 Na （11）-U （92）之間的所有元素進(jìn)行多元素同時分析，空間分辨率可以達(dá)到 70 微米。
測量采用非破壞、非接觸式方法，調(diào)查過程中不會損害任何物品。30 分鐘之內(nèi)就可以在現(xiàn)場安裝和操作 ARTAX。操作 ARTAX 惟一需要的就是正常供電。
根據(jù)應(yīng)用要求及可用預(yù)算，有幾種配置好的光譜儀可供選擇，這些配置具備不同的功能和用戶舒適度。

主要技術(shù)特點
對材料的結(jié)構(gòu)和組成進(jìn)行非破壞性的微區(qū)多元素分析，分析元素范圍11Na-92U，空間分辨率達(dá)到70微米。
第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)， 不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率優(yōu)于165eV at MnKa 100Kcps。優(yōu)于145eV分辨率探測器可選。
靈活的設(shè)計，樣品檢驗時可以不受空間、樣品尺寸限制。X-Y-Z 三維自動定位跟蹤樣品臺，防碰撞保護(hù)，可以自動完成點、線、面掃描功能。
配有各種靶材的低功率X射線光管、CCD相機、微聚焦多孔毛細(xì)管鏡、XYZ樣品臺、*。
微聚焦多孔毛細(xì)管鏡與準(zhǔn)直管相比強度提高1000倍以上。
根據(jù)應(yīng)用要求不同，可提供多種配置。
應(yīng)用：文物保護(hù)、文物修復(fù)、考古、藝術(shù)品、筆跡鑒定、書畫、刑偵、材料研究、電子、汽車、航空航天等領(lǐng)域。