電子散斑干涉應(yīng)力應(yīng)變測量儀（ESPI）（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）電子散斑干涉技術(shù)是以激光散斑作為被測物場變化信息的載體，利用被測物體在受到激光照射后產(chǎn)生干涉散斑場的相關(guān)條紋來檢測雙光束波前后之間的相位變化。

電子散斑干涉應(yīng)力應(yīng)變測量儀（ESPI）（Eletronic Speckle Pattern Interferometry）電子散斑干涉技術(shù)是以激光散斑作為被測物場變化信息的載體，利用被測物體在受到激光照射后產(chǎn)生干涉散斑場的相關(guān)條紋來檢測雙光束波前后之間的相位變化。

電子散斑干涉技術(shù)（ESPI）是一種非接觸式全場實(shí)時(shí)測量技術(shù)，可完成位移、應(yīng)變、表面缺陷和裂紋等多種測試，其具有通用性強(qiáng)、測量精度高、測量簡便等優(yōu)點(diǎn)。

Dantec Q-300 ESPI是丹迪公司研發(fā)生產(chǎn)的一款用于試件高靈敏度的三維位移、變形和應(yīng)變分析的光學(xué)儀器。

技術(shù)參數(shù)：

測量維度：一維、二維、三維

測量區(qū)域：大可達(dá)200mm×300mm

測量精度：位移（0.03—0.1μm可調(diào)），應(yīng)變（0.01%—*）

主要特點(diǎn)：

高速、精度高、無接觸、方便使用