任何物質(zhì)都會(huì)和X射線產(chǎn)生相互作用,產(chǎn)生熒光,衍射,散射,發(fā)熱,變色等各種物理現(xiàn)象,這就組成了各種檢測(cè)儀器的背景,除了所期望的信號(hào)之外,使用不同X射線探測(cè)器都一定會(huì)不可避免的接收到各種不需要的背景，這些背景必然對(duì)實(shí)驗(yàn)檢測(cè)產(chǎn)生不可避免的干擾，尤其是在精細(xì)研究的情況下。因此，檢測(cè)人員自然而然的提出了無(wú)背景樣品片
的需求。

X射線衍射無(wú)背景樣品片是基于布拉格定律的基礎(chǔ)，精心挑選少數(shù)適用材料，通過(guò)巧妙的理論計(jì)算，在*試驗(yàn)驗(yàn)證了其理論正確性的基礎(chǔ)上，經(jīng)過(guò)繁復(fù)且耐心的加工而獲得的，在X射線衍射儀全譜掃描范圍內(nèi)均無(wú)明顯衍射和漫散射峰的片狀材料，所獲得樣品片均非常適用于微量樣品衍射分析，尤其是極弱衍射信號(hào)的材料理論研究和開發(fā)工作。

所有無(wú)背景樣品片，除經(jīng)過(guò)大功率轉(zhuǎn)靶X射線衍射儀(40kV,100mA)逐片檢驗(yàn)以外，還經(jīng)過(guò)上進(jìn)口儀器的復(fù)檢。

除了基礎(chǔ)的通用型以外，我們還開發(fā)出了高溫用途的，甚至于透紅外材料的無(wú)背景樣品片。

顏色/形狀和性能分為如下幾種：