超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀基于光譜反射原理， 即在一定的波長光波下，通過追蹤被帶有層狀結構的基片反射和/或投射的光束來實現測量膜層厚度。測量薄膜厚度范圍可達1nm -1000 um。一般20ms可以得到測量結果。而且超高精度MProbe薄膜測厚儀尺寸非常小巧，8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀非常適合實驗室，產品質量檢測，研發(fā)使用。

l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀連接方便，使用自如：不管實在實驗室獨立使用，還是在研發(fā)或者是工廠連續(xù)生產中不間斷在線持續(xù)監(jiān)測膜層厚度，都能在10分鐘內完成安裝，與電腦或是網絡的連接十分方便

l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀測量數據完整：除了膜層的厚度，還能測量光學參數和表面平整度

l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀使用人性化，功能強大：一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析；強大的工具-仿真功能，內部自我糾正，多樣品測量，動態(tài)監(jiān)測和產品批量監(jiān)測.