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PAN-STM/AFM UHV PAN式低溫掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

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公司名稱 Quantum量子科學儀器貿(mào)易（北京）有限公司
品牌
型號 PAN-STM/AFM
所在地 北京市
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時間 2015/11/26 15:00:01
訪問次數(shù) 676

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動化，降低對人的依賴。

Pan式低溫掃描探針顯微鏡析系統(tǒng)是由美國RHK Technology公司制造的，主要特點包括：
- PAN STM/AFM掃描頭體積極?。?.96”X1.55”)
- 集成了樣品X-Y-Z方向的大范圍移動（5mmX5mmX10mm）
- 工作溫度包括了低溫300mK、RT、VT和HT多種范圍
- 內(nèi)置彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng)，原位針尖與樣品更換
- 兼容多種Flow

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UHV PAN式低溫掃描探針顯微鏡系統(tǒng)

Pan式低溫掃描探針顯微鏡析系統(tǒng)是由美國RHK Technology公司制造的，主要特點包括：
- PAN STM/AFM掃描頭體積極小（2.96”X1.55”)

- 集成了樣品X-Y-Z方向的大范圍移動（5mmX5mmX10mm）
- 工作溫度包括了低溫300mK、RT、VT和HT多種范圍

- 內(nèi)置彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng)，原位針尖與樣品更換

- 兼容多種Flow式或Bath式低溫恒溫器與磁體
- 與RHK全數(shù)字R9控制器一同使用
適用于拓撲絕緣體、低溫超導、表面結(jié)構(gòu)、電學測量等表面科學研究中。

主要技術(shù)參數(shù):

- 工作模式：STM與非接觸式AFM
- 溫度范圍：<300mK; RT; VT; HT
- X-Y-Z位移范圍：5mmX5mmX10mm

- 掃描范圍：5umX5um （RT）
- 樣品尺寸：10mmX10mm
- 掃描頭尺寸：40mmX70mm

結(jié)構(gòu)緊湊，體積極小：
內(nèi)置減震系統(tǒng)、可水平或垂直放置

Pan式低溫掃描探針顯微鏡結(jié)構(gòu)極其緊湊，核心部分尺寸在~40X70mm左右；內(nèi)置有彈簧和渦流阻尼減震系統(tǒng)；根據(jù)用戶的要求，可以提供水平放置配置和垂直放置配置兩種；初次之外，它兼容常用的低溫恒溫器和磁體，并提供相應的集成方案。

原位樣品與探針更換：

操做簡單、快速；性能可靠

在低溫和超高真空環(huán)境中，樣品和針尖的原位更換一直是使用者非常關(guān)心的問題。為此，RHK公司為Pan式低溫掃描探針顯微鏡開放了一套性能可靠、操作簡單快速的原位樣品與針尖更換裝置，并提供了多個樣品與針尖的放置室。

Pan式低溫掃描探針顯微鏡中使用的樣品架靈活多樣，可充分滿足各種實驗要求，如原位加熱、樣品剝離、樣品轟擊等等；同時，它還兼容其他的商業(yè)化掃描探針顯微鏡中所配備的樣品架。

兼容各種磁體和恒溫器

為充分滿足科學家的要求，RHK與*磁體和恒溫器制造商緊密合作，開發(fā)了低溫掃描探針顯微鏡整機系統(tǒng)和獨立掃描頭模塊系統(tǒng)，根據(jù)用戶的特殊要求提供了一整套的解決方案。

RHK公司將世界上的全數(shù)字掃描探針顯微鏡控制器R9集成到Pan式掃描探針顯微鏡中，集中研發(fā)力量，推出了噪音極低的R9掃描控制系統(tǒng)和IVP-R9前置放大器。

應用案例：

Si(111)表面7X7重構(gòu)，4K

Bi2Se3表面形貌，4K