X熒光測厚儀應(yīng)對所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。

X熒光測厚儀產(chǎn)品介紹：

    本著對插接件等細小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-720更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計，帶有聚焦光點的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測系統(tǒng)，眾多*條件的選擇，保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

    X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。

    Ux-720鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺，可以通過鼠標(biāo)的點擊操作，選擇樣品的多點測試，特別適應(yīng)于細小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測試。

    Ux-720鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備，測試樣品的部位清楚明了，同時攝像設(shè)備拍抓測試部位的圖片，和測試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測試報告中。

    Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。

X熒光測厚儀產(chǎn)品指標(biāo)：

測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)

測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層

測量下限：0.003um

測量上限：30-50um（以材料元素判定）

測量層數(shù)：10層

測量用時：30-120秒

探測器類型：Si-PIN電制冷

探測器分辨率：149eV

高壓范圍：5-50Kv，50W

X光管參數(shù)：5-50Kv，50W，側(cè)窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：鍍層濾光片

CCD觀察：260萬像素

微移動范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

測試環(huán)境：非真空條件

數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式

準(zhǔn)直器：Ø0.5mm

軟件方法：FlexFP-Mult

工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義

樣品腔：70*20mm

整機重量：38kg

X熒光測厚儀常用單位：

微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”，密耳（mil）

1um=39.4邁，  1um=0.04mil