產(chǎn)品型號：LBUT60/60B
產(chǎn)品名稱：LBUT60/60B超聲波探傷儀
產(chǎn)品貨號：XF-LBUT60/60B
產(chǎn)品價(jià)格：0
產(chǎn)品品牌：星楓儀器
產(chǎn)品類別：物理性質(zhì)檢測儀器
LBUT60便攜式數(shù)字超聲波探傷儀
產(chǎn)品特點(diǎn):
里博LBUT60便攜式數(shù)字超聲波探傷儀,利用PC端通訊軟件可以升級儀器系統(tǒng)的功能。另外，LBUT60B型無系統(tǒng)在線升級功能。
IP65標(biāo)準(zhǔn)鋁鎂合金外殼，堅(jiān)固耐用，防水防塵，抗*力；
26萬色真彩屏超高亮顯示，5種色彩方案，亮度可調(diào)，適合強(qiáng)光、弱光的工作環(huán)境；
掉電保護(hù)，存儲數(shù)據(jù)不丟失，探傷參數(shù)可自動測試或預(yù)置；
高效節(jié)能充電鋰電池，可野外連續(xù)供電8小時(shí)；
實(shí)時(shí)時(shí)鐘記錄：實(shí)時(shí)探傷日期、時(shí)間的跟蹤記錄并存儲；
高精度定量、定位，滿足了較近和較遠(yuǎn)距離探傷的要求；
近場盲區(qū)小，滿足了小管徑、薄壁探傷的要求。
主要功能:
自動校準(zhǔn)：自動測試探頭的K值、前沿、零點(diǎn)、材料聲速；
Φ值計(jì)算(大平底、平底孔、短橫孔等于Φ值自動計(jì)算，無需人工計(jì)算)；
100個(gè)獨(dú)立探傷通道，可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)（可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展）；
自由存儲，回放300幅A掃波形及數(shù)據(jù)（可根據(jù)用戶需求擴(kuò)展）；
DAC、AVG曲線自動生成并可以分段制作，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行修正與補(bǔ)償；
自動錄制探傷過程，并可以進(jìn)行動態(tài)回放；
B掃描功能，清晰顯示缺陷縱截面形狀；
增益補(bǔ)償：對表面粗糙度、曲面、厚工件遠(yuǎn)距離探傷等因素造成的dB衰減可進(jìn)行修正；
五檔重復(fù)頻率設(shè)置；
斜探頭角度（K值）自動計(jì)算；
三倍近場區(qū)曲線：在A＜3N區(qū)域內(nèi)，DAC曲線按采樣點(diǎn)實(shí)際位置生成；
深度補(bǔ)償，自動生成TCG曲線：不同深度相同尺寸缺陷的回波高度相同，適用于厚件探傷；
回波次數(shù)分析。
輔助功能:
自動增益、回波包絡(luò)、峰值記憶功能提高了探傷效率；
自動顯示缺陷回波位置(深度d、水平p、距離s、波幅H、當(dāng)量dB、孔徑Φ值)；
自由切換四種標(biāo)度方式：深度、聲程、投影、曲率；
斜探頭角度和K值兩種輸入方式；
休眠和屏保；
閘門內(nèi)聲光報(bào)警；
中英文操作界面。
技術(shù)參數(shù):
名稱 | 技術(shù)數(shù)據(jù) |
掃描范圍(mm) | 0～10000mm |
垂直線性誤差 | ≦3% |
水平線性誤差 | ≦0.1% |
探傷靈敏度余量 | ≧68dB（深200mmφ2平底孔） |
動態(tài)范圍 | ≧34dB |
分辨率 | ≧40dB |
頻率范圍(MHz) | 0.5～20 |
增益調(diào)節(jié)(dB) | 0～110 |
材料聲速(m/s) | 1000～15000 |
抑制 | 0～80% |
工作溫度(℃) | -27～70 |
外形尺寸(mm) | 210*156*40 |
重量(Kg) | 1.2 |
標(biāo)準(zhǔn)配置:
LBUT60主機(jī) | 1臺 |
直探頭2.25MHz3/4英寸(美國TRU-SONIC) | 1支 |
斜探頭4P 8*9 60º(美國TRU-SONIC) | 1支 |
電源適配器 | 1個(gè) |
BNC電纜 | 2根 |
PC通訊軟件 | 1套 |
可選配件:
探頭；
標(biāo)準(zhǔn)試塊；
筆記本電腦。
