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MProbe20 光反射薄膜厚度測(cè)量?jī)x
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PR05 白光干涉儀（三維形貌）
面議772簡(jiǎn)介：PR05/06白光干涉三維形貌儀是采用日本*的的白光干涉掃描技術(shù)研制的納米量級(jí)形貌測(cè)量?jī)x器，透過(guò)精密的掃描系統(tǒng)和自主的解析算法，進(jìn)行樣品表面微細(xì)形貌的量測(cè)與分析。表面顯微成像能力與高精度測(cè)量的*結(jié)...
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