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非接觸式金屬膜厚測量儀
面議0簡介：非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量，對導電薄膜的膜厚精確測量，表征已被...
上海昊量光電設備有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：我要詢價 -
激光干涉膜厚測量儀
面議0簡介：Xper-IP激光干涉膜厚測量儀Xper-IP是基于公司*的光譜干涉技術的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學薄膜厚度測量設備
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在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE 70
面議0簡介：在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE70在線薄膜厚度實時測量儀-MPROBE70是一種高性能厚度測量系統(tǒng)
上海昊量光電設備有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：我要詢價 -
半導體/薄膜無損檢測儀
面議0簡介：薄膜無損檢測系統(tǒng)，半導體無損檢測系統(tǒng)l產(chǎn)品特點系統(tǒng)使用獲得zuanli的光聲技術設計無損測量系統(tǒng)
上海昊量光電設備有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：我要詢價 -
薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE 60（mapping測量）
面議0簡介：薄膜厚度均勻度測量系統(tǒng)-MPROBE60（精確定位測量）MProbe60是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設計
上海昊量光電設備有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：我要詢價 -
原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU
面議0簡介：MPROBE50INSITU–實時薄膜厚度測量儀原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU用于測量薄膜厚度和n原位薄膜厚度測量儀-MPROBE50INSITU優(yōu)勢：1
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膜厚測量儀（厚度范圍1nm~1.8mm）
面議0簡介：美國Semisonsoft膜厚測量儀MProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以...
上海昊量光電設備有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：我要詢價 -
微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP
面議0簡介：微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE40MSPMProbe40測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方
上海昊量光電設備有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：我要詢價 -
手持式膜厚測量儀-MProbe 20 HC（彎曲表面）
面議0簡介：手持式膜厚測量儀-MProbe20HC（彎曲表面）手持式膜厚測量儀-MProbe20HC（彎曲表面）基于MProbe20平臺可以輕松測量曲面和大型零件的薄膜厚度，MProbe20具有專為單層和雙層...
上海昊量光電設備有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：我要詢價 -
Mprobe 20-臺式膜厚測量儀
面議0簡介：Mprobe20單點薄膜測量儀MProbe20是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統(tǒng)，只需點擊鼠標就可進行薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm
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