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簡介：正業(yè)科技自主研發(fā)生產(chǎn)PCB精密檢測儀器，繼特性阻抗測試儀ZK2120之后又推出新的高頻特性阻抗測試儀ZK2130，ZK2130比ZK2120測的阻抗值更加精確，且ZK2130帶有數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能。...

簡介：薄膜熱應(yīng)力測試系統(tǒng)（TST）薄膜熱應(yīng)力測試系統(tǒng)，采用測量光學(xué)設(shè)計MOS傳感器，MOS傳感器榮獲美國專屬，可快速準確地測量薄膜的曲率、應(yīng)力強度、隨溫度變化的曲線關(guān)系等。

簡介：SKP5050掃描開爾文探針系統(tǒng)是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)（WorkFunction）或半導(dǎo)體、絕緣表面的表面勢（SurfacePotential）。材料表面的功函數(shù)通...

簡介：光束燒結(jié)（LBS）是Neotech*的一種非接觸光子燒結(jié)技術(shù)，量產(chǎn)型多噴頭3D微電子打印機應(yīng)用于“低溫”基板（如聚碳酸酯（PC））上的印刷電路。每個燒結(jié)頭由一個特殊選擇的光源和集成的空氣冷卻反射鏡...

簡介：動態(tài)水分吸附儀-滲透率組件滲透率是薄膜類材料的重要特性，精確測量薄膜、紙張等的水分子滲透率對于評估其作為包裝材料在不同水蒸汽分壓環(huán)境下隔絕水分的功能有著重要的意義。

簡介：*的光學(xué)攝像法與天平測量法二合一的表面張力儀，溫度傳感器范圍：-50°C-500°C（依賴不同的傳感器）

簡介：模塊化接觸角測量儀（MCAT）ModularContactAngleTechnologyMCAT接觸角測試儀是一款功能強大、模塊化的專注于科學(xué)研究的儀器。儀器所有的設(shè)計均為更易于科學(xué)研究和更加節(jié)約...

簡介：美國Rtec微納米壓痕、劃痕儀，配備6容易互換的機械頭，高倍率顯微鏡和成像模塊（AFM和3維形貌儀）。

簡介：W+B公司的LFVX系列測試系統(tǒng)，可以用來和各種夾具、引伸計和不同的軟件以及各種附件進行組合。LFV家族有超過20種測量范圍的產(chǎn)品，以滿足以下領(lǐng)域的各種試驗

簡介：納米壓痕儀專為各種材料的表征和開發(fā)過程中進行納米級測量而設(shè)計。該系統(tǒng)是一個*可升級，可擴展且經(jīng)過生產(chǎn)驗證的平臺，全自動硬度測量可應(yīng)用于質(zhì)量控制和實驗室環(huán)境。