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簡介：JEM-ARM200F透射電子顯微鏡的電子光學系統(tǒng)標準配備了一體化的球差校正器,其掃描透射像分辨率(STEM-HAADF)達到了0.08nm，為商用透射電子顯微鏡分辨率的世界之zui。

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簡介：國家有色金屬及電子材料分析測試中心電鏡室，擁有JEM-2000FX分析型透射電子顯微鏡，JEM-2010高分辨型電子顯微鏡以及JEM-1000超高壓透射電子顯微鏡。可為客戶提供金屬材料、各種粉末、...

簡介：Tecnai?透射電鏡旨在為生命科學、材料科學和電子行業(yè)提供真正完整的成像和分析解決方案

簡介：Titan?透射電鏡以其的產(chǎn)品設計和已獲證明的具有突破性的性能和結(jié)果成為各地杰出研究人員的*掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM)

簡介：Titan?透射電鏡供應以其的產(chǎn)品設計和已獲證明的具有突破性的性能和結(jié)果成為各地杰出研究人員的*掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM)

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簡介：SPM-9700掃描探針顯微鏡是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。

簡介：SPM-9700掃描探針顯微鏡供應是在樣品表面用微小的探針進行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。