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簡(jiǎn)介：德國(guó)蔡司Sigma系列產(chǎn)品用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

簡(jiǎn)介：蔡司EVO系列模塊化的SEM平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用

簡(jiǎn)介：掃描電化學(xué)顯微鏡與掃描隧道顯微鏡（STM）的工作原理類似。但SECM測(cè)量的不是隧道電流，而是由化學(xué)物質(zhì)氧化或還原給出的電化學(xué)電流。

簡(jiǎn)介：一款性能和價(jià)格介于光學(xué)顯微鏡和傳統(tǒng)大電鏡之間的經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式掃描電鏡，可用于測(cè)量亞微米尺寸的樣品。PhenomPure適用于傳統(tǒng)大電鏡待測(cè)樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無(wú)法滿足需求的客戶。...

簡(jiǎn)介：結(jié)合飛納臺(tái)式掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)，以較快、較簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺(tái)式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的顆粒圖...

簡(jiǎn)介：拉伸測(cè)試是研究材料面對(duì)拉力或壓力反應(yīng)時(shí)的一種較簡(jiǎn)單、較常用的測(cè)試方法。通過(guò)測(cè)試樣品在斷裂臨界點(diǎn)時(shí)的受力大小，可以確定出某材料的強(qiáng)度，設(shè)計(jì)師和品質(zhì)經(jīng)理可以通過(guò)飛納臺(tái)式掃描電鏡拉伸臺(tái)預(yù)測(cè)該材料在特定領(lǐng)...

簡(jiǎn)介：在許多電鏡應(yīng)用中，如果樣品可以傾斜、旋轉(zhuǎn)，用戶就可以得到更豐富的形貌特征。飛納臺(tái)式掃描電鏡優(yōu)中心樣品杯就是基于這一目的來(lái)研發(fā)的，樣品杯包含了一個(gè)子樣品臺(tái)，使用戶可以輕松、安全地從各個(gè)角度觀察樣品。...

簡(jiǎn)介：自動(dòng)硅藻檢驗(yàn)DiatomScopeTM系統(tǒng)為法醫(yī)硅藻檢驗(yàn)提供了可靠高效的解決方案，能自動(dòng)完成每批各個(gè)樣品的高質(zhì)量的圖像捕捉，實(shí)現(xiàn)地毯式拼圖（可設(shè)置夜間自動(dòng)運(yùn)行）；用戶從獲取的圖片中逐個(gè)查找、標(biāo)記硅...

簡(jiǎn)介：飛納臺(tái)式掃描電鏡3D粗糙度重建系統(tǒng)借助3D粗糙度重建模塊，可以產(chǎn)生樣品的3D還原圖像，并進(jìn)行亞微米量級(jí)的粗糙度測(cè)量。3D粗糙度重建模塊可以幫助用戶更加細(xì)致的分析飛納臺(tái)式掃描電鏡所得到的圖像，提取出...

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