2024年3月6日，日立高新技術(shù)集團旗下的日立分析儀器有限公司(以下簡稱為“日立分析儀器”)推出了可在NEXTA DSC系列熱分析儀上使用的偏光顯微鏡配件。
NEXTA DSC被用于不同的熱分析領(lǐng)域，包括聚合物、制藥、電子、化學(xué)、學(xué)術(shù)研究、石油和天然氣、食品和金屬等，以對熱流進行測量從而獲得材料特性。其可測量熔點、玻璃化轉(zhuǎn)變和結(jié)晶等熱性能。
在開發(fā)高性能材料的行業(yè)和研究設(shè)施中，作為日立NEXTA DSC可選配件的Real View®偏光顯微樣品觀察裝置用途廣泛，可擴展應(yīng)用到樣品晶體取向、多層薄膜質(zhì)量控制和故障分析等。
高級顯微分析
NEXTA DSC的Real View®偏光顯微樣品觀察裝置配備一個2,000萬像素的高分辨率攝像頭，與標(biāo)準(zhǔn)Real View®攝像系統(tǒng)相比，分辨率提高了10倍，數(shù)碼變焦倍率提高了50倍。此外，可控偏光技術(shù)增強了圖像的對比度，使操作人員能夠探索樣品的方向性，即各向異性。
攝像頭裝置具有專門為偏光觀測設(shè)計的專用圖像處理功能。該系統(tǒng)采用與NEXTA DSC系列類似的簡單操作，可對多層薄膜進行逐層熔點分析。
這些功能有助于對各種材料進行高精度結(jié)構(gòu)分析，能夠清晰地觀測微小區(qū)域，包括多層薄膜質(zhì)量的異常。
日立分析儀器熱分析儀產(chǎn)品經(jīng)理Olivier Savard表示：“NEXTA DSC系列的Real View®偏光顯微樣品觀察裝置引入了高精度結(jié)構(gòu)分析的創(chuàng)新方法，為需要增強材料特征的公司和研究實驗室擴展了差示掃描量熱儀的功能。”
日立高新科學(xué)熱分析儀產(chǎn)品經(jīng)理西村晉哉表示:“偏光顯微樣品觀察裝置采用由日立創(chuàng)新開發(fā)的圖像處理功能對微區(qū)域進行熱分析。該產(chǎn)品為研發(fā)和質(zhì)量保證/質(zhì)量控制市場提供了創(chuàng)新應(yīng)用和解決方案。"
*“NEXTA”和“Real View”是日立分析儀器在日本、美國、歐盟及其他國家/地區(qū)的注冊商標(biāo)。
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