日立新品！熒光分布成像系統(tǒng)---測定萬圣節(jié)貼紙
剛剛過去的BCEIA大會，日立發(fā)布了的熒光分布成像系統(tǒng)(EEM View)，今天就用它來測定萬圣節(jié)*的南瓜貼紙。
EEM View是日立先創(chuàng)在熒光分光光度計中加入CMOS相機的系統(tǒng)，能夠同時獲得樣品的圖像和光譜信息，突出亮點是可以獲得樣品圖像任意區(qū)域的光譜性能。
南瓜貼紙光譜信息鑒賞
各式各樣的南瓜貼紙中含有大量熒光粉，*，這種貼紙暴露在黑暗中會發(fā)出熒光。
圖1所示便是這次鑒賞南瓜頭貼紙的熒光分布成像系統(tǒng)，從圖中可以清晰看到新附件的結構，CMOS相機位于積分球下方，樣品安放在積分球上方，入射光經(jīng)過積分球漫反射獲得均勻光源，激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光。
總結
一般的熒光分光光度計測得的是樣品區(qū)域表面平均化后的信息，只能獲得一條熒光光譜，而日立熒光分布成像系統(tǒng)能夠同時獲取樣品不同位置的光譜信息，有利于探究樣品表面的光學性能分布。
日立高新技術以‘讓世界充滿活力’為宗旨，致力于新技術的融合與開發(fā)，這次推出的新品熒光分布成像系統(tǒng)將對油墨、材料、化工、涂料以及LED等領域帶來新的啟發(fā)，新的探索方法。
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