檢測分析測試測定測量化驗(yàn)XRF光譜儀器設(shè)備
檢測儀用途及技術(shù)規(guī)格
項(xiàng)目 | Innov-X DC6500 |
重量 | 基本上重量:1.4kg 上電池后:1.6kg |
尺寸 | 300mm x 90mm x 220mm |
激發(fā)源 | 射線管靶材5種可選擇 金（Au）、銀（Ag）、鎢（W）、鉭（Ta），鈀（Pb） |
電壓電流與功率 | 大功率微型X射線管40 KV、100MA、4W |
濾波器 | 六種可選擇的濾波器根據(jù)不同的實(shí)物自動調(diào)節(jié) |
探測器 | 性能分辨率Si-Pin X射線探測器 |
探測器制冷溫度 | Peltier效應(yīng)半導(dǎo)體制冷,制冷溫度-35℃ |
解析度 | <220 |
軟件模式 | 塑料、合金、混合物等3種模式。 |
數(shù)據(jù)分析 | 多種分析模式，包括基本參數(shù)，Compton歸一化，經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)模式，光譜搭配 |
數(shù)據(jù)顯示 | 集中于ppm與百分比（％）顯示，光譜或峰強(qiáng)度（計(jì)數(shù)率）或用戶定的單位 |
數(shù)據(jù)傳輸 | RS232串行電纜，藍(lán)牙，SD卡，CF卡，等傳輸方式。文件格式TXT，EXCEL。 |
顯示屏 | 彩色，分辨率TFT工業(yè)級觸摸屏 |
PDA | 數(shù)據(jù)即時顯現(xiàn)，彩屏、128M標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存，可升級至4Gb閃存卡、可用SD卡、CF卡。 |
儀器 的技術(shù)指標(biāo)和性能參數(shù)
環(huán)境工作溫度：-20℃ ~50℃。環(huán)境濕度：0~95%。
多光束： 兩個光束段，不同的元素采用不同的電壓與電流，產(chǎn)生好的分析效果。
采用了新的校準(zhǔn)技術(shù)，使儀器具有兩倍的計(jì)數(shù)率，從而具有更快的檢測速度和更好的性。
采用了*重新設(shè)計(jì)的射線管、無壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
結(jié)構(gòu)更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，對于某些應(yīng)用信號提了~40%.
儀器外殼采用鋁合金、塑膠設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用，手柄軟膠設(shè)計(jì)，手感好,更適合長時間使用。
儀器具有很好的平衡性，在測試時能立于工作臺上，一鍵式按鈕設(shè)計(jì)，即使長時間操作也無疲勞感。
只需將RoHS檢測儀直接接觸待測樣品表面，無須等待和花費(fèi)時間即可現(xiàn)場確定樣品種類及其成分含量。
不規(guī)則或小型樣品的補(bǔ)償性測試方法，能檢測很小或很少的樣品，如直徑為0.04mm的細(xì)絲也能立即辨認(rèn)。
無需借助電腦，可在現(xiàn)場隨意，查看，放大相關(guān)元素的光譜圖。
元素分析范圍：鈦（）到鈾（U）之間的所有元素。
RoHS/WEEE模式:Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等30個元素。
Halogen Free模式：Br、P、S、Cl、K、Ca、、、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hg、As、Pb、Se、Au、Bi、Sr、Zr、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb等28個元素。
顯示器：整機(jī)一體化設(shè)計(jì)，分辨率TFT QVGA卡西歐 BlanView® 觸摸顯示彩屏，帶LED背光。
可視性：顯示器無LCD原反應(yīng)，室內(nèi)低光源與強(qiáng)光環(huán)境下也能有優(yōu)異可視性，能耗低。
數(shù)據(jù)存儲：可存儲205000組數(shù)據(jù)與光譜。
數(shù)據(jù)顯示：百分比（%）顯示元素含量，元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計(jì)多次測試的平均值,可接臺式電腦顯示;儀器在測試過程中同步動態(tài)顯示化學(xué)成份。
系統(tǒng)CPU外設(shè)：采用USB總線, I2C,GPIO, 藍(lán)牙, 加速器，實(shí)時的時鐘芯片，微型SD 存儲卡 (可存儲2GB 數(shù)據(jù))，GPIO 條帶連接到扳機(jī)和PSM 。
兼容性：支持打印、藍(lán)牙、條碼。
輻射安全：根據(jù)NCPR(美國輻射防護(hù)委員會)標(biāo)準(zhǔn)，在美國每年的全身輻射受照量的允許值是50mSv／年，手足等表皮組織的年輻射受照量的允許值是50Rem/年。
輻射低, 美國原廠輻射報告.計(jì)量研究所報告
檢測分析測試測定測量化驗(yàn)XRF光譜儀器設(shè)備
