丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品可以與國外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計制造經(jīng)驗。多年來與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。

　　測厚儀特點：

　　1、一次可同時分析24個元素。

　　2、任意多個可選擇的分析和識別模型。

　　3、相互立的基體效應(yīng)校正模型。

　　4、多變量非線性回收程序。

　　5、貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。

　　6、針對不同樣品可自動切換準(zhǔn)直器。

　　7、智能貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。

　　8、內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號處理能力25倍以上。

　　鍍層測厚儀檢測的方法

　　無損檢測技術(shù)是一門理論上綜合性較強(qiáng)，滄州歐譜又非常重視實踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計算等諸多方面。

　　采用電渦流原理的測厚儀，原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。

　　鍍層測厚儀測量方法：

　　鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

　　丞普諾儀器（蘇州）有限公司以誠信、實力和質(zhì)量獲得業(yè)界的高度認(rèn)可，堅持以客戶為核心，“質(zhì)量到位、服務(wù)”的經(jīng)營理念為廣大客戶提供的服務(wù)。