二綜合試驗(yàn)箱_溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱--產(chǎn)品用途
二綜合試驗(yàn)箱即溫度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱，是綜合溫度、振動(dòng)兩個(gè)功能的試驗(yàn)箱。具有快速溫變速率,提供溫度和振動(dòng)等的綜合測(cè)試環(huán)境的功能。
二綜合試驗(yàn)箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，同時(shí)可在試驗(yàn)箱內(nèi)將電振動(dòng)應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上，供用戶對(duì)整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫度、振動(dòng)綜合應(yīng)力篩選試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u(píng)價(jià)。與單一因素作用相比，更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對(duì)溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程的重要試驗(yàn)手段。
　　二綜合試驗(yàn)箱_溫度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱—符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.10-2008/IEC 60068-2-6:1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)
GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第３部分：高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
　　二綜合試驗(yàn)箱_溫度振動(dòng)綜合試驗(yàn)箱--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)
型號(hào)    ETE-KWS-1000    ETE-KWS-1500
工作室尺寸(W*H*D)mm    1000*1000*1000    1200*1000*1200
外型尺寸(W*H*D)mm    1200*1200*2200    1400*1200*2500
功率KW    20    26
性能
指標(biāo)    溫度范圍    -40℃～+180℃/-70℃～+180℃
    溫度波動(dòng)    ±0.5℃/≤2℃/±2℃
    功率(KW)    16～26
    樣品區(qū)承重    根據(jù)振動(dòng)臺(tái)決定    根據(jù)振動(dòng)臺(tái)決定
控制
系統(tǒng)    控制器    進(jìn)口觸摸式（P、I、D +S、S、R.）微電腦集成控制器
    精度范圍    設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：±0.1℃
    冷卻方式    風(fēng)冷或水冷
    循環(huán)系統(tǒng)    耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間    從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤15S
溫度恢復(fù)時(shí)間    ≤5min（與溫度恢復(fù)條件有關(guān)，既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān)）
振動(dòng)臺(tái)安裝方式    根據(jù)振動(dòng)臺(tái)決定