1.DektakXT 能實(shí)現(xiàn):
的性能，臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于 4?
– Single-arch 設(shè)計(jì)提供具突破性的掃描穩(wěn)定性
– 的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)
– 新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短 40%
– 64-bit， Vision64 同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù) 分析速度提高了十倍
效率，操作簡(jiǎn)易
– 直觀的 Vision64 用戶界面，操作簡(jiǎn)易
– 針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)，讓用戶輕松更換針尖
探針輪廓儀領(lǐng)域，的價(jià)值
– 布魯克（Bruker）以實(shí)惠的配置實(shí)現(xiàn) 的性能
– 單傳感器設(shè)計(jì)，提供單一平面上低作用力和寬掃 描范圍
2.40 多年不斷創(chuàng)新
建立在 40 多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新的知識(shí)與經(jīng)驗(yàn)之上 — 部薄膜測(cè)試儀，部基于微處理器的輪廓儀，和 部 300mm 自動(dòng)輪廓儀—DektakXT 繼承了以往的 “”。新的 DektakXT 是首部使用 single-arch 設(shè)計(jì)的探針輪廓儀，首部?jī)?nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī)，及安裝 64-bit 并行處理架構(gòu)已獲得測(cè)量及操作效率的探針輪廓儀。
3.設(shè)計(jì)*
探針輪廓儀的性能受三個(gè)基本因素影響：測(cè)量重現(xiàn)性，分析結(jié)果所需的時(shí)間和操作的簡(jiǎn)易程度。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率。 DektakXT 利用全新結(jié)構(gòu)和和軟件來(lái)實(shí)現(xiàn)以上三個(gè)因素，以獲得的使用效果。
DektakXT 的設(shè)計(jì)使其在測(cè)量臺(tái)階高度重現(xiàn)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn)，臺(tái)階高度重現(xiàn)性可低于 4?。使用 single-arch 結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計(jì)更加穩(wěn)固，降低了對(duì)不利環(huán)境條件的敏感性，如聲音和震動(dòng)噪音。憑借 single-arch 結(jié)構(gòu)的輔助， Bruker 大大提高了電子器件的穩(wěn)定性，降低了溫度變化影響，及使用現(xiàn)代處理器。
利用的直接驅(qū)動(dòng)掃描平臺(tái)，Dektak XT 大大提高了大范圍掃描 3D 形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時(shí)的）的掃描速度 , 減少了掃描的時(shí)間。在保證行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下，Dektak XT 可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高 40%。另外，DektakXT采用 Vision64操作軟件，提高了大范圍 3D 形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且加快了濾波器的工作速度和多模式掃描時(shí)的數(shù)據(jù)分析。
對(duì)多用戶儀器而言，能快速輕松更換探針以適應(yīng)不同應(yīng)用是必要的。DektakXT 新的針尖自動(dòng)校準(zhǔn)， 消除任何潛藏的針尖更換/校準(zhǔn)隱患。這一創(chuàng)新讓 其他困難并耗時(shí)的任務(wù)變得輕松且快速。為盡量滿 足使用的要求，Bruker 提供了范圍廣泛的標(biāo)準(zhǔn)和客戶定制探針規(guī)格，包括用于深溝渠測(cè)量的高徑比針尖。
與 DektakXT 的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)相得益彰的配置是 Bruker 的 Vision64 操作分析軟件。Vision64 提供了業(yè)界實(shí)用精簡(jiǎn)的圖示用戶界面，結(jié)合智能結(jié)構(gòu)，具備可視化工作流程及各種自助設(shè)定功能，以滿足用戶快速并全面進(jìn)行數(shù)據(jù)收集和分析。
